VIII edycja międzynarodowej konferencji „Szybkie Prototypowanie: Druk 3D i 4D – problemy metrologiczne”

W dniach 17-19 września 2025 w Kielcach odbyła się VIII edycja międzynarodowej konferencji „Szybkie Prototypowanie: Druk 3D i 4D – problemy metrologiczne”, zorganizowana przez Katedrę Metrologii i Niekonwencjonalnych Metod Wytwarzania na Wydziale Mechatroniki i Budowy Maszyn Politechniki Świętokrzyskiej. Tegoroczna konferencja miała szczególny wymiar, ponieważ wpisała się w jubileusz 60-lecia powstania Politechniki Świętokrzyskiej.

Wydarzenie poświęcone było zagadnieniom związanym z inteligentnym wykorzystaniem technologii przyrostowych w procesach wytwarzania, integracją systemów produkcyjnych w ramach Przemysłu 4.0 oraz (zgodnie z hasłem przewodnim) problemom metrologicznym, które w przypadku druku 3D i 4D odgrywają istotną rolę.

Konferencja zgromadziła przedstawicieli krajowych i zagranicznych ośrodków naukowych oraz przemysłu, stanowiąc doskonałą platformę wymiany wiedzy i doświadczeń. W ramach sesji naukowych zaprezentowano wyniki badań m.in. w zakresie właściwości mechanicznych, aspektów metrologicznych, zagadnień tribologicznych, symulacyjnych oraz ekonomicznych związanych
z technologiami druku 3D i 4D. Uczestnicy mieli możliwość udziału w konferencji zarówno stacjonarnie w Kielcach, jak i online dzięki hybrydowej formule spotkania.

Podczas obrad odbył się również panel dyskusyjny dotyczący perspektyw rozwoju technologii przyrostowych i metrologii, a także możliwości ich praktycznego wdrażania. Szczególną rolę w tym zakresie odegrały ośrodki badawcze Politechniki Świętokrzyskiej, w tym Centrum Naukowo-Wdrożeniowe CENWIS oraz Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny GUM, prezentujące najnowocześniejsze rozwiązania pomiarowe.

Serdecznie dziękujemy wszystkim uczestnikom, patronom i partnerom konferencji za udział i wsparcie, które przyczyniły się do sukcesu tegorocznej edycji.